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電弱點(diǎn)測定儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
電弱點(diǎn)測試儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
全自動電弱點(diǎn)測試儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
電弱點(diǎn)測試儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
固定卷膜電弱點(diǎn)測試儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
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